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美國StellarNet光纖光譜儀薄膜測試系統提供完整的一套膜厚測試系統,可以對單層或多層的5nm-200um的快速測試。這套系統包含便攜式光纖光譜儀,反射式探針和光源。通過樣品正面反射的正弦條紋圖得到反射和膜厚的光學特...
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